大腦橫切面顳葉腦回和髓突的對應規律范文

本站小編為你精心準備了大腦橫切面顳葉腦回和髓突的對應規律參考范文，愿這些范文能點燃您思維的火花，激發您的寫作靈感。歡迎深入閱讀并收藏。

摘要:目的研究顳葉腦回在橫切面上與髓突的對應規律，為影像學定位腦回奠定解剖學基礎。方法：取正常人顱腦標本，用水彩顏料對顳葉各腦回染以不同顏色，做平行于眥耳線、層厚6mm的橫切腦片。選取其中能切到顳葉腦回的典型層面，通過染色確認顳葉各腦回，觀察、測量、統計對應髓突的數目、方向等形態特點。結果：腦橫切面上，顳葉腦回對應的髓突數目，絕大多數為1支，極少數為2支；對應的髓突方向，也是固定的。結論：在腦橫切面上，通過髓突定位腦回是可行、可靠的。在一定方向上的1～2支髓突對應的皮質，即為相應的顳葉腦回。

關鍵詞:大腦；橫切面；髓突；腦回；定位

顳葉是大腦皮質的一個重要部分，不僅有重要的聽覺中樞和聽覺性語言中樞，還參與人類的精神和情緒活動，其中的海馬與記憶有關，海馬鉤為嗅覺、味覺中樞。顳葉損傷可引起癲癇、記憶障礙、聽覺和平衡覺障礙、語言障礙、視野缺損、瞳孔散大和對光反射消失等疾病。因此，顳葉各腦回的定位診斷具有重要意義。許多學者通過不同手段、不同方式，研究了腦回的定位方法［1－2］。但迄今為止，橫切面上顳葉腦回的定位尚未見報道。本研究擬通過腦切片的方法研究顳葉腦回在橫切面上的定位問題，以期為影像學上精確定位顳葉腦回奠定解剖學基礎。

1材料和方法

1．1取材、染色與切片

取20例經甲醛固定的正常成年人頭顱。通過眥耳線，用鋼鋸鋸切開顱，一側鋸切至腦實質表面留下一條淺鋸痕，以便作為切制腦切片的基準線。取出腦后剔除腦表面的被膜及血管。認清腦顳葉的各溝，以此辨認清楚顳葉各腦回。用不同的水彩顏料對顳葉各腦回染以不同顏色，用明膠敷腦表面以固定染色。用自制的切片儀，做平行于鋸痕（即眥耳線），層厚6mm的腦切片。

1．2觀察、測量與分析

根據切片外周的染色可以精確辨認出顳葉不同的腦回。由此再進一步確認各腦回對應的髓突，觀察髓突的數目、方向及形態學等特征。由中央髓質發出的1個條索界定為1條髓突，不論其分支、分叉數目。髓突方向參照鐘表時針方向定位。所切制的腦切片，有6個切片切到顳葉腦回，選取其中具有明顯確認結構的4個切片進行分析，用數碼相機拍攝制備圖片。

2結果

2．1第四腦室、垂體層面

（圖1）該切層中后部中間，界于小腦和腦干之間可見一陰影，即為第四腦室；切層前部中間清晰可辨認出垂體。這兩個結構為該切層可以準確辨認的典型結構。通過周邊染色可確認顳上回、顳中回、顳下回和鉤等顳葉腦回。觀察、分析這些顳葉腦回對應髓突的支數和髓突方向（表1）。

2．2視交叉層面

（圖2）該切層中間可見一白色橫向條形結構，該結構為視交叉。通過周邊染色可確認顳上回、顳中回、顳下回、枕顳內側回、枕顳外側回和鉤等顳葉主要腦回。觀察、分析這些顳葉腦回對應髓突的支數和髓突方向（表2）。

2．3第三腦室、中腦水管層面

（圖3）該切層中間可見的陰影為第三腦室。大腦腳底也可以明確辨認，由此可見中腦被蓋部中間的陰影即為中腦水管。這兩個結構為該切層確認的典型結構。通過周邊染色可確認顳上回、顳中回、顳下回、枕顳內側回、枕顳外側回、鉤和海馬旁回等顳葉主要腦回。觀察、分析這些腦回對應髓突的支數和髓突方向（表3）。2．4內囊、第三腦室層面（圖4）該切層中部可清楚辨認出紋狀體；切層前部正中的狹長陰影為第三腦室。通過周邊染色可確認顳上回、顳中回、顳下回、枕顳內側回、海馬和海馬旁回等顳葉主要腦回。觀察、分析這些腦回對應髓突的支數和髓突方向（表4）

3討論

3．1腦回定位的研究方法

由于大腦皮質各個腦回區域在CT、MRI等影像學上區分困難，這就給皮質區域的定位診斷造成了困難。但大腦皮質疾病，如外傷、腫瘤和出血等，又必須進行定位診斷。為此，多年來學界在不斷探索大腦皮質的定位方法。從研究方法來看，主要有3種方法：（1）純解剖學方法［1－9］，通過制作腦切片來觀察辨認腦回、腦溝。該方法有簡便易行并且辨認腦回、腦溝精確的優點。該方法切片與影像斷層掃描層面之間難免有偏差，但可為臨床影像定位提供一個重要的可靠參考基礎。（2）純影像學方法［1，2，8－15］，將CT、MRI影像表現與血管造影相結合，并結合患者臨床資料來確定相應腦回。該方法具有較強的臨床實用性，但因在影像上對腦溝腦回的精確辨認存在很大局限性，其精準可靠度欠佳。（3）影像與解剖相結合的方法［1，2．16－20］，首先進行影像掃描，然后在以相同掃描基線制作斷層腦切片，兩者結合對照辨認腦回、腦溝。該方法結合了影像和解剖的各自優點，但該方法切片和影像掃描層面很難做到完全吻合，因實際應用并不理想。

3．2腦回的定位方法

究竟通過什么結構來定位腦回，一直是影像學關注的重要的關鍵問題。腦回是通過腦溝分界的，基于腦溝進行定位是最直接而簡單的方法［1－4，6，7，8－16］。在影像掃描層面上，可以精準辨認的腦溝畢竟有限，因此通過腦溝來定位腦回非常局限；顱骨骨性標志結構和大腦腦溝、甚至腦回之間存在一定的對應關系，有學者探索了一些通過顱骨骨性標志定位腦回的規律［1，2］。但顱骨骨性標志和腦溝、腦回之間存在固定對應關系的非常有限；顱骨形態又存在比極大的個體差異性。因此這種定位方法基本上沒有價值。通過髓突進行定位［1，2，5、17－20］大腦髓質中央區都延伸發散出條索樣髓突。指向皮質。通過探索總結表明，如果我們僅僅把由髓質中央區發出的條索作為觀察對象，而忽略其分支、分叉，則髓突和所指向的腦回之間存在有較為固定的對應規律，即一定腦回所對應的髓突數目固定，且絕大多數為1支，少數為2支，極少數有3支；尤其腦回對應的髓突在一定切層上的方向是固定而有規律可循的。這種對應關系，無論是在腦切片和影像學表現上，都不受任何因素影響而固定不變。因此，通過腦切片研究總結出的規律可以完全直接應用于影像學定位。

3．3髓突與顳葉腦回的對應規律

本研究主要觀察分析了顳葉的顳上回、顳中回、顳下回、枕顳內側回、枕顳外側回、鉤、海馬旁回和海馬等主要腦回。結果顯示：20例標本中，相同切層的各腦回所對應髓突的方向基本是一致固定不變的；同時，各腦回對應的髓突數目絕大多數為1支，少數為2支。由此可見，在橫掃這一影像學最常用的掃描層面上，通過髓突數目和位置分辨顳葉的腦回，同樣具有可靠、簡便易行的臨床應用價值。

參考文獻

［1］丁娟，李振平，劉樹偉．大腦溝、回在斷面上定位的研究進展［J］．中國臨床解剖學，2001，19（1）：89－90．

［2］陳劉成．頂枕溝及其鄰近腦回的形態學和功能定位研究進展［J］．蚌埠醫學院學報，2016，41（4）：553－554．

［3］葛偉麗，王洪榮，廖章鼎，等．人腦半球頂葉外側面的隆突形態［J］．解剖學報，2013，44（3）：357－359．

［5］李雪鵬，李少華，張劍凱，等．端腦橫切面上髓突與中央前后回的對應關系［J］．中國臨床解剖學雜志，2006，24（6）：645－647．

［6］李雪鵬，張業輝，納青青，等．端腦冠狀面上髓突與中央前后回的對應關系研究［J］．廣東醫科大學學報，2017，35（5）：490－492．

［7］李雪鵬，張業輝，納青青，等．端腦橫斷面主要腦回對應髓突的側別差異性［J］．局解手術學雜志，2017，26（10）：703－705．

［15］鄭明發．關于大腦腦回、腦葉CT定位的醫學影像學研究［J］．醫學信息，2015，28（21）：257．

［18］劉豐春．端腦髓突的斷面解剖學觀測［J］．解剖學雜志，1998，21（3）：189－191．

［19］劉豐春．大腦皮質機能區CT定位的研究［J］．中國臨床解剖學雜志，1998，16（1）：1－4．

［20］欒麗菊，劉豐春．中央前后回在矢狀斷面上的定位［J］．中國臨床解剖學雜志，2004，22（2）：179－182．

作者：李雪鵬 張業輝 納青青 林炎生 張劍凱 單位：廣東醫科大學人體解剖學教研室